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日本TECLOCK厚度表測厚儀原裝

更新時間：2024-10-08

產(chǎn)品型號：SM-112P

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：日本

產(chǎn)品報價：

產(chǎn)品特點：SM-112P日本TECLOCK厚度表測厚儀原裝
品牌：日本TECLOCK得樂
型號：SM-112P
最小刻度：0.01mm
測量范圍：10mm
指示誤差(mm)：±15um
平行度：5um
表盤刻度：0-0.5-1
測量力：2.5以下
測頭形狀：Φ10平型
測砧形狀：Φ10平型

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詳細資料

SM-112P日本TECLOCK厚度表測厚儀原裝

品牌：日本TECLOCK得樂

型號：SM-112P

最小刻度：0.01mm

測量范圍：10mm

指示誤差(mm)：±15um

平行度：5um

表盤刻度：0-0.5-1

測量力：2.5以下

測頭形狀：Φ10平型

測砧形狀：Φ10平型

SM-112P日本TECLOCK厚度表測厚儀原裝

日本TECLCOK得樂表盤式厚度表SM-112系列

表盤式厚度表型號：

SM-112、SM-112LS、SM-112LW、SM-112-3A、SM-112-80g、SM-112P、SM-112FE、SM-112AT、SM-112D

表盤式厚度表別名：

表盤式厚度計、手握式厚度表、厚薄表、測厚計

表盤式厚度表產(chǎn)品說明：

最小刻度有0.01和0.001兩種。

測量厚度可達50mm

部分量表采用陶瓷測頭，與工作接觸面為陶瓷，可延長使用壽命。另外，還有FE（材質(zhì)為加硬SK4）和AT（材質(zhì)為特殊鍍層）可供選擇。

根據(jù)測頭的形狀不同，可分為標(biāo)準(zhǔn)型和其它型，

標(biāo)準(zhǔn)型的測量力不超過2.5N，同時也可選用低測量力0.4N

表盤式厚度表用途：

應(yīng)用廣泛，可測量紙張、頭發(fā)、橡膠板、金屬管、珍珠等的厚度。

表盤式厚度表測頭：

標(biāo)準(zhǔn)型

LS型

LW型

3A型

FE型

AT型

材質(zhì)：陶瓷

上測頭：???10mm平面

下測頭：???10mm平面

材質(zhì)：上測頭為鋼球，下測頭為陶瓷

上測頭：???3.2mm球形

下測頭：???10mm平面

材質(zhì)：上、下測頭均為鋼球

上測頭：???3.2mm球形

下測頭：???3.2mm球形

材質(zhì)：加硬SK4

上測頭：???5mm平面

下測頭：???5mm平面

材質(zhì)：加硬SK4

上測頭：???10mm平面

下測頭：???10mm平面

材質(zhì)：鋼加特殊鍍層

上測頭：???10mm平面

下測頭：???10mm平面

標(biāo)準(zhǔn)型.jpg

表盤式厚度表規(guī)格：

型號	最小刻度 mm	測量范圍 mm	精度 um	平面度 um	表盤刻度	測量力	上測頭	下測頭	重量	測頭參考圖片
SM-112	0.01	10	±15	5	0-50-100	2.5N以下	φ 10 Flat	φ 10 Flat	145	標(biāo)準(zhǔn)型
SM-112LS	0.01	10	±15	ー	0-50-100	2.5N以下	φ 3.2 Ball	φ 10 Flat	145	LS
SM-112LW	0.01	10	±15	ー	0-50-100	2.5N以下	φ 3.2 Ball	φ 3.2 Ball	145	LW
SM-112-3A	0.01	10	±15	5	0-50-100	2.5N以下	φ 5 Flat	φ 5 Flat	145	3A
SM-112-80g	0.01	10	±15	5	0-50-100	停止點測量力0.8N±0.05	φ 10 Flat	φ 10 Flat	145	標(biāo)準(zhǔn)型
SM-112P	0.01	10	±15	5	0-0.5-1	2.5N以下	φ 10 Flat	φ 10 Flat	145	標(biāo)準(zhǔn)型
SM-112FE	0.01	10	±15	5	0-50-100	2.5N以下	φ 10 Flat	φ 10 Flat	145	FE
SM-112AT	0.01	10	±15	8	0-50-100	0.8N以下	φ 10 Flat	φ 10 Flat	145	AT
SM-112D	0.01	10	±15	5	0-50-100	2.5N以下	φ 10 Flat	φ 10 Flat	145	標(biāo)準(zhǔn)型