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日本Union紅外觀察測量顯微鏡半導體封裝

日本Union紅外觀察測量顯微鏡半導體封裝

更新時間:2024-10-07

產(chǎn)品型號:DZ2-IR

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:日本

產(chǎn)品報價:

產(chǎn)品特點:DZ2-IR日本Union紅外觀察測量顯微鏡半導體封裝

主題:日本Union紅外觀察測量顯微鏡

型號:DZ2-IR

品牌:日本UNION

應用于半導體各種封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)的測量

詳細資料

DZ2-IR日本Union紅外觀察測量顯微鏡半導體封裝

DZ2-IR日本Union紅外觀察測量顯微鏡半導體封裝

主題:日本Union紅外觀察測量顯微鏡


型號:DZ2-IR


品牌:日本UNION


應用于半導體各種封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)的測量


特點:

1.650~1200nm波長光學系統(tǒng)從可見光到近紅外光范圍。

2.無級變倍放大倍率(1.5X~15X)或(5X~50X)。不需要更換物鏡,同時具備高的工作距離。 3.配置Uni-Measure測量軟件,進行大尺寸移動測量,或微觀的小尺寸測量。

4.配備表面和透射的紅外光照明,能很好應用于半導體各種封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)的

觀察,如BGA,CSP,COF和晶圓級封裝等。



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